MI3122漏電開(kāi)關(guān)、回路阻抗測(cè)試儀

MI3122 回路阻抗、漏電開(kāi)關(guān)綜合測(cè)試儀

主要特點(diǎn):
l         回路阻抗/預(yù)期故障電流測(cè)試、線(xiàn)路阻抗/短路電流測(cè)試
l         內(nèi)置保險(xiǎn)參數(shù)用于快速評(píng)價(jià)測(cè)量結(jié)果
l         漏電開(kāi)關(guān)動(dòng)作電流、動(dòng)作時(shí)間測(cè)試
l         相序測(cè)試
l         接觸電壓測(cè)試
l         測(cè)量回路阻抗時(shí)可不觸發(fā)漏電開(kāi)關(guān)
l         預(yù)編程限值,通過(guò)/不通過(guò)(PASS/FAIL)評(píng)價(jià)測(cè)量結(jié)果
l         綠/紅指示提供直觀的測(cè)量結(jié)果評(píng)價(jià)
l         適合CAT IV 裝置驗(yàn)收
l         內(nèi)置磁鐵可將儀器固定在鐵質(zhì)材料上
l         內(nèi)置充電器
l         可存儲(chǔ)1900個(gè)測(cè)量結(jié)果
l         USB/RS232通訊接口,與PCSW軟件兼容
l         堅(jiān)固、精巧的儀器外觀設(shè)計(jì)
 
符合標(biāo)準(zhǔn):
 
技術(shù)指標(biāo):
漏電開(kāi)關(guān)測(cè)試
漏電電流:10mA、30mA、100mA、300mA、500mA、1000mA
測(cè)試電流波形:半波和脈沖
RCD漏電開(kāi)關(guān)形式:G型(非延遲型)、S型(延遲型)
測(cè)試電流極性:0°或180°
電壓:50-264V,45-55Hz
 
接觸電壓(測(cè)試電流:0.5 X IΔN  接觸電壓限值:25V 50V)
測(cè)量范圍(V)
分辨率(V)
精度
0.0-19.9
0.1
-0%- +15%讀數(shù)+3位
20.0-99.9
0.1
-0%- +15%讀數(shù)
 
動(dòng)作時(shí)間(1/2、1、2、5倍IΔN)
測(cè)量范圍(ms)
分辨率(ms)
精度
0-300
1
3ms
 
動(dòng)作電流
測(cè)量范圍(IΔN )
分辨率(IΔN )
精度(IΔN )
0.2-1.1 (AC型)
0.05
0.1
0.2-1.5 (A型 IDN>30mA)
0.05
0.1
0.2-2.2 (A型 IDN<30mA
0.05
0.1
 
故障回路阻抗 (測(cè)試電流6.5A 10ms,不拆除裝置和保險(xiǎn))
測(cè)量范圍(W)
分辨率(W)
精度
0.00-9.99
0.01
5%讀數(shù)+5位
10.0-99.9
0.1
5%讀數(shù)+5位
100-999
1
10%讀數(shù)
1.00k-9.99k
10
10%讀數(shù)
 
故障回路阻抗 (不觸發(fā)漏電開(kāi)關(guān))
測(cè)量范圍(W)
分辨率(W)
精度
0.00-9.99
0.01
5%讀數(shù)+10位
10.0-99.9
0.1
5%讀數(shù)+10位
100-999
1
10%讀數(shù)
1.00k-9.99k
10
10%讀數(shù)
 
線(xiàn)路阻抗(測(cè)試電流6.5A 10ms)
測(cè)量范圍(W)
分辨率(W)
精度
0.00-9.99
0.01
5%讀數(shù)+5位
10.0-99.9
0.1
5%讀數(shù)+5位
100-999
1
10%讀數(shù)
1.00k-9.99k
10
10%讀數(shù)
 
相序測(cè)試
電壓:100V-550V
頻率:14-500Hz
結(jié)果:123或321
 
電壓頻率測(cè)量
測(cè)量范圍
分辨率
精度
0-550V
1V
2%讀數(shù)+2位
10.0-499.9
0.1Hz
0.2%讀數(shù)+1位
 
基本技術(shù)參數(shù)
電源:五號(hào)1.5V充電電池,6節(jié),操作時(shí)間大約20小時(shí)
過(guò)壓保護(hù):50V CAT IV
顯示:帶背光液晶屏
尺寸:14cmX8cmX23cm
重量:0.85kg
 
訂購(gòu)信息:
標(biāo)準(zhǔn)配置:主機(jī)、測(cè)試線(xiàn)1套、充電電池及充電器、使用說(shuō)明書(shū)
選件
A1290軟件
A1198 磁性接觸探頭
A1270  測(cè)試探頭